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電子產品CE認證測定標準IEC 62321 發布2013版本
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IEC 62321-1、-2、-3-1、-3-2、-4和-5的2013版已通過最終國際標準版草案(FDIS) 階段，目前已正式公布。有關電子產品CE認證中特定有害物質測定的標準- IEC 62321，概述了電子產品CE認證的測試方法，以確定產品中的有害化學物質濃度低于歐盟有害物質限制指令(RoHS)法律中制定的有害化學物質濃度。如同以往，2008版的IEC 62321標準也經過了一段維護周期，現今再將最佳的操作和先進的技術引入測試程序，以確保實驗的一致性和可靠度，滿足標準的制定。
IEC 標準范圍
62321-1簡介和概述
62321-2樣品的拆卸、拆解和機械拆分
62321-3-1使用X射線熒光光譜儀對電子產品中的鉛、汞、鎘、總鉻和總溴進行篩選
62321-3-2使用C-IC對聚合物和電子產品中的總溴進行篩選
62321-4使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物、金屬和電子材料中的汞
62321-5使用AAS、AFS、ICP-OS和ICP-MS確定聚合物和電子材料中的鎘、鉛和鉻，以及金屬中的鎘和鉛
2013版的最主要變化在于將文件拆分成一系列標準，以利標準維護，同時導入新的測試方法或儀器，例如燃燒- 離子層析儀(C-IC) 和冷蒸汽原子熒光光譜儀(CV-AFS)。
在完成上述系列標準之后，目前還有另外四份標準正處于不同草案編制階段; PBB/PBDE (IEC 62321-6)、六價鉻(IEC 62321-7-1和-2) 以及鄰苯二甲酸酯(IEC 62321-8) 的測試方法。
這些標準預計公布日期如下:
●2014年2月- IEC 62321-6
●2014年4月- IEC 62321-7-1
●2014年11月- IEC 62321-7-2
●2015年3月- IEC 62321-8
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此文關鍵詞：電子產品,CE認證,測定標準,IEC 62321
